Please wait a minute...
图/表 详细信息
空间X射线反射式聚焦系统的同步辐射表征技术
田纳玺, 谢佳男, 蒋晖, 杨宇
航空学报    2023, 44 (3): 527386-527386.   DOI: 10.7527/S1000-6893.2022.27386
摘要   (1507 HTML333 PDF(pc) (5215KB)(2542)  

针对脉冲星观测与计时导航等领域对空间X射线望远镜测试与标定的迫切需求,综述了目前国内外基于同步辐射和X射线自由电子激光光源发展的多种高精度的反射式聚焦系统的面形检测、系统标定和反射率计量测量技术。着重介绍了细光束、哈特曼波前传感器、光栅干涉、近场散斑等面形测试方法在不同尺度和面形的反射镜在线测量中的应用,阐明了其在工程应用中的优劣。介绍了同步辐射装置在空间X射线望远镜的在线成像和校准以及反射率计量上已开展的卓有成效工作。期望通过相关综述介绍,可以推广空间X射线望远镜反射元件广泛利用同步辐射等大科学装置进行性能表征实验,以此促进相关领域的进一步发展。国内同步辐射大科学装置的建立和蓬勃发展为大尺度空间X射线望远镜的在线检测、校准和光学性能表征提供了重要支撑。


同步辐射束线名年份能量/keV光子通量/(count·s-1发散度/(″)
BESSY-ⅡXPBF200511081
BESSY-ⅡXPBF22016110131
SPring-8BL20B219975~11312
AlbaMINERVA202211.5×10131
View table in article
表2 目前国际上可用于空间望远镜校准检测的光束线
正文中引用本图/表的段落
通常空间望远镜的反射镜元件的单项指标检测主要基于实验室的离线设备,比如使用马尔圆度仪检测芯轴的圆度;使用白光干涉仪测量表面粗糙度;使用斐索干涉仪[2]、长程轮廓仪(LTP)[3]和纳米光学测量系统(NOM)[4]检测元件的高度或斜率误差。对于反射镜最重要的中低频的面形信息,受设备视场范围或者斜率范围限制,单次测量不能覆盖较大尺寸或角度范围。基于位置和角度拼接的测量技术近年来被广泛采用以增大镜面测量的有效范围,如日本大阪大学的科研人员发展的微拼接干涉仪[5]和角度拼接干涉仪[6]显著地提高面形误差的测量精度。
空间X射线聚焦光学系统是开展X射线脉冲星科学探测与计时导航的基础元件。最常见的聚焦型X射线光学系统包括Wolter、K-B和龙虾眼等类型的聚焦反射镜。其中,Wolter型聚焦光学系统于1952年被提出[12],由2个同轴共焦的旋转抛物面和双曲面构成,主要包括Wolter-Ⅰ(2次内反射)、Ⅱ(1次内反射和1次外反射)、Ⅲ(2次外反射)3种类型,如图1所示[1]。这类结构具有消除色差、减少慧差,并增大数值孔径等优点。其中Wolter-I型望远镜系统因易于工程加工而获得广泛应用。X射线以掠入射角入射到超光滑镜片的内表面,通过2次反射后将X射线聚焦在焦点处。龙虾眼型聚焦反射镜是1979年Angel[13]根据龙虾的眼球方形结构特性提出的一种用于X射线聚焦的光学系统,一般采用微通道板方孔阵列技术研制而成,其特殊的正交几何结构使其在各个方向的聚焦成像能力相同,是一种非常紧凑的光学设计,基本工作原理如图2(a)[14]所示。目前国内外具备研制该类光学系统的单位主要包括英国莱斯特大学、史密森天体物理学天文台、捷克天文学研究所[15]、法国Photonis公司以及中国的北方夜视技术股份有限公司[16]、北京空间机电研究所等。图2(b)为2015年美国首飞的软X射线龙虾眼型望远镜[17]。
综合上述2.1~2.4节描述的各种波前表征技术,通过表1来比较不同在线检测技术优缺点。从测量精度而言,细光束和哈特曼波前传感器法并不能获得比离线检测(<20 nrad)更好的角度测量精度,但对于空间X射线望远镜这样的大尺度反射镜系统而言,快速、灵活和稳定的在线检测是优先考虑的。正由于此,细光束和哈特曼波前传感器法已经在空间X射线的表征中得到了广泛的应用。光栅干涉和近场散斑技术目前还未见于空间X射线反射元件的在线表征,原因主要在于:① 这2种基于同步辐射的检测技术的发展相对于空间X射线元件的发展周期而言时间较短,主要的技术发展在于近10年,还未能及时应用;② 目前空间X射线元件的加工和装配精度还远未达到极限,对于较高测量精度的要求尚不迫切。不过随着未来主动式的望远镜系统的广泛应用,需要检测技术具备曲率误差或圆度误差的检测能力,这是目前使用的离线和在线检测技术所不能实现的,所以具备大曲率误差检测能力的光栅干涉和近场散斑技术将是未来此领域具有潜力的重要技术手段。而随着望远镜的反射镜加工要求日益提升,具备更高测量精度的在线技术也必将得到重视。
如表2所示,在欧洲和日本多个同步辐射光源已经为空间X射线望远镜建造了专用的光束线站,并利用细光束扫描和成像技术对望远镜系统进行准直调试和聚焦性能表征。中国在相关领域起步虽晚,但近年来在空间X射线望远镜领域发展迅速,恰逢目前国家同步辐射光源为代表的大科学装置也在上海、北京、合肥和广东等地拔地而起,两大重大科技装置在此刻相逢,完全有可能通过相互的合作借鉴,来推动中国X射线光学元件领域的发展。
空间X射线的有效集光面积为几何集光面积和镜面反射率的乘积。实现反射镜的高反射率是空间X射线望远镜获得大有效集光面积的关键。对于空间X射线观测,镜面表面需镀制金属单层膜[11]、周期多层膜甚至非周期多层膜[78]以获得高的反射率和较宽入射角和能量范围。镀膜材料的选取取决于望远镜工作的X射线能段和功能需求。相比于前几节讨论的反射镜面形误差的表征技术,反射率计量需要考虑反射镜的高频表面粗糙度,这种粗糙度通过Nevot-Croce因子或Debye-Waller因子[79]的形式来减小理论的反射率。对于超光滑表面一般Nevot-Croce因子更为精确。界表面宽度包含粗糙度和界表面扩散2部分,对于反射测试而言无法分辨两者。但是对于单层膜而言,通常直接用表面宽度等效作为表面粗糙度。高频粗糙度除了降低镜向方向的反射光通量,其产生的随机漫散射也会对于望远镜系统的成像质量形成显著的衰减[80]。反射率或者散射光计量包括单一反射镜元件测量和整个反射式系统的通量计量。
对于X射线脉冲星计时导航而言,多采用单次反射的聚焦光学系统,以提高反射效率,如中国的XPNAV-1,美国NASA的NICER望远镜和欧洲的水星探测器等均采用了单次反射光学系统.而对于空间科学探测而言,致力于脉冲星、黑洞等新发现,需采用2次反射光学系统,以提高成像质量,比如最为著名的空间X射线望远镜之一的Chandra望远镜将高精度抛光加工的微晶玻璃进行多层嵌套,使有效面积达到约800 mm2@1 keV,实现了0.5″的角分辨率,至今未被超越.欧洲的XMM-Newton等望远镜采用电铸镍复制工艺路线的空间X射线反射镜,实现了大面积和15″的角分辨率.随着自适应光学发展,新型X射线望远镜Lynx[18]目标追求与Chandra望远镜相当水平的角分辨率的情况下获得其30倍的视场.在国内,北京控制工程研究所已研制了三代X射线Wolter型聚焦系统,并实现了国内首次在轨验证,目前正在研制如图3(a)所示的大面积多层嵌套的X射线掠入射聚焦望远镜.此外,同济大学、中国科学院西安光学精密机械研究所、苏州大学、中国科学院长春光学精密机械与物理研究所、哈尔滨工业大学等单位也开展了相关研究. ...
基于ZEMAX的Fizeau干涉仪模型
1
2010
... 通常空间望远镜的反射镜元件的单项指标检测主要基于实验室的离线设备,比如使用马尔圆度仪检测芯轴的圆度;使用白光干涉仪测量表面粗糙度;使用斐索干涉仪[2]、长程轮廓仪(LTP)[3]和纳米光学测量系统(NOM)[4]检测元件的高度或斜率误差.对于反射镜最重要的中低频的面形信息,受设备视场范围或者斜率范围限制,单次测量不能覆盖较大尺寸或角度范围.基于位置和角度拼接的测量技术近年来被广泛采用以增大镜面测量的有效范围,如日本大阪大学的科研人员发展的微拼接干涉仪[5]和角度拼接干涉仪[6]显著地提高面形误差的测量精度. ...
Fizeau interferometer model base on ZEMAX
1
2010
... 通常空间望远镜的反射镜元件的单项指标检测主要基于实验室的离线设备,比如使用马尔圆度仪检测芯轴的圆度;使用白光干涉仪测量表面粗糙度;使用斐索干涉仪[2]、长程轮廓仪(LTP)[3]和纳米光学测量系统(NOM)[4]检测元件的高度或斜率误差.对于反射镜最重要的中低频的面形信息,受设备视场范围或者斜率范围限制,单次测量不能覆盖较大尺寸或角度范围.基于位置和角度拼接的测量技术近年来被广泛采用以增大镜面测量的有效范围,如日本大阪大学的科研人员发展的微拼接干涉仪[5]和角度拼接干涉仪[6]显著地提高面形误差的测量精度. ...
Measurement of X-ray telescope mirrors using a vertical scanning long trace profiler
1
1996
... 通常空间望远镜的反射镜元件的单项指标检测主要基于实验室的离线设备,比如使用马尔圆度仪检测芯轴的圆度;使用白光干涉仪测量表面粗糙度;使用斐索干涉仪[2]、长程轮廓仪(LTP)[3]和纳米光学测量系统(NOM)[4]检测元件的高度或斜率误差.对于反射镜最重要的中低频的面形信息,受设备视场范围或者斜率范围限制,单次测量不能覆盖较大尺寸或角度范围.基于位置和角度拼接的测量技术近年来被广泛采用以增大镜面测量的有效范围,如日本大阪大学的科研人员发展的微拼接干涉仪[5]和角度拼接干涉仪[6]显著地提高面形误差的测量精度. ...
The nanometer optical component measuring machine: A new sub-nm topography measuring device for X-ray optics at BESSY
1
2004
... 通常空间望远镜的反射镜元件的单项指标检测主要基于实验室的离线设备,比如使用马尔圆度仪检测芯轴的圆度;使用白光干涉仪测量表面粗糙度;使用斐索干涉仪[2]、长程轮廓仪(LTP)[3]和纳米光学测量系统(NOM)[4]检测元件的高度或斜率误差.对于反射镜最重要的中低频的面形信息,受设备视场范围或者斜率范围限制,单次测量不能覆盖较大尺寸或角度范围.基于位置和角度拼接的测量技术近年来被广泛采用以增大镜面测量的有效范围,如日本大阪大学的科研人员发展的微拼接干涉仪[5]和角度拼接干涉仪[6]显著地提高面形误差的测量精度. ...
Microstitching interferometry for X-ray reflective optics
1
2003
... 通常空间望远镜的反射镜元件的单项指标检测主要基于实验室的离线设备,比如使用马尔圆度仪检测芯轴的圆度;使用白光干涉仪测量表面粗糙度;使用斐索干涉仪[2]、长程轮廓仪(LTP)[3]和纳米光学测量系统(NOM)[4]检测元件的高度或斜率误差.对于反射镜最重要的中低频的面形信息,受设备视场范围或者斜率范围限制,单次测量不能覆盖较大尺寸或角度范围.基于位置和角度拼接的测量技术近年来被广泛采用以增大镜面测量的有效范围,如日本大阪大学的科研人员发展的微拼接干涉仪[5]和角度拼接干涉仪[6]显著地提高面形误差的测量精度. ...
Relative angle determinable stitching interferometry for hard X-ray reflective optics
1
2005
... 通常空间望远镜的反射镜元件的单项指标检测主要基于实验室的离线设备,比如使用马尔圆度仪检测芯轴的圆度;使用白光干涉仪测量表面粗糙度;使用斐索干涉仪[2]、长程轮廓仪(LTP)[3]和纳米光学测量系统(NOM)[4]检测元件的高度或斜率误差.对于反射镜最重要的中低频的面形信息,受设备视场范围或者斜率范围限制,单次测量不能覆盖较大尺寸或角度范围.基于位置和角度拼接的测量技术近年来被广泛采用以增大镜面测量的有效范围,如日本大阪大学的科研人员发展的微拼接干涉仪[5]和角度拼接干涉仪[6]显著地提高面形误差的测量精度. ...
Synchrotron radiation sources - present capabilities and future directions
1
1998
... 然而反射镜的安装和运行工况对于面形误差的影响不可忽视,例如系统装配、重力释放、力学冲击、热变形以及入射光本征畸变等.直接利用X射线光源在接近光学系统实际工况,如相似波长、热负载和夹持等条件下开展测量已成为近年来重要的发展方向.这种在线检测弥补了系统测量环境与使用环境差异所带来的影响.于是,美国、德国、日本和中国等均建造基于X射线真空模拟测试系统开展反射率、角分辨率、探测能段等指标的测试与标定.然而该类装置存在如下局限性:① 由于采用了实验室X射线源,其亮度和相干性的缺失使得难以模拟单能大流量的X射线光子;② 目前还难以实现大口径的实验室X射线源,不能覆盖X射线反射镜口径日益增大的需求;③ X射线的波长不连续,不能完全满足元件在工作波段的测试要求.于是以同步辐射光源为代表的新型光源逐渐展现出自身优势.同步辐射和X射线自由电子激光是迄今能产生高相干性和最高亮度的X射线光源装置,同时具有高准直、短脉冲和广光谱覆盖的优势[7-8].基于新型光源发展的X射线光学系统表征技术,无论对于空间X射线望远镜的反射镜面形特征还是整体系统特性的表征精度和速度都会有大幅度提升. ...
1
2015
... 然而反射镜的安装和运行工况对于面形误差的影响不可忽视,例如系统装配、重力释放、力学冲击、热变形以及入射光本征畸变等.直接利用X射线光源在接近光学系统实际工况,如相似波长、热负载和夹持等条件下开展测量已成为近年来重要的发展方向.这种在线检测弥补了系统测量环境与使用环境差异所带来的影响.于是,美国、德国、日本和中国等均建造基于X射线真空模拟测试系统开展反射率、角分辨率、探测能段等指标的测试与标定.然而该类装置存在如下局限性:① 由于采用了实验室X射线源,其亮度和相干性的缺失使得难以模拟单能大流量的X射线光子;② 目前还难以实现大口径的实验室X射线源,不能覆盖X射线反射镜口径日益增大的需求;③ X射线的波长不连续,不能完全满足元件在工作波段的测试要求.于是以同步辐射光源为代表的新型光源逐渐展现出自身优势.同步辐射和X射线自由电子激光是迄今能产生高相干性和最高亮度的X射线光源装置,同时具有高准直、短脉冲和广光谱覆盖的优势[7-8].基于新型光源发展的X射线光学系统表征技术,无论对于空间X射线望远镜的反射镜面形特征还是整体系统特性的表征精度和速度都会有大幅度提升. ...
The radiometric calibration of SOHO: SR-002
2
2002
... 基于同步辐射装置的反射元件的在线检测技术近年来得到广泛关注,主要包括细光束法、哈特曼波前传感器、光栅干涉法、近场散斑法、扫描相干衍射法等.这些技术主要通过测量反射光束的局部波前的传输方向或相位变化来计算反射镜的面形误差信息.除了同步辐射领域自用的光学元件检测,包括空间X射线望远镜、极紫外光刻系统等其他重要领域中使用的反射镜元件均可借助同步辐射装置开展面形在线检测.对于空间X射线望远镜元件而言,为了更好地预测望远镜的角度分辨率和控制反射镜的加工精度,面形测量一般需要好于亚微米的测量精度.虽然精度上不如同步辐射光学元件要求这么高,但是更大的尺寸和更复杂的系统集成也为测量带来了额外的难度.除了在线面形测量,对于空间望远镜这种二维聚焦反射系统,直接进行成像或聚焦实验也是重要的检测手段,而同步辐射装置可以提供各种尺寸、能量和特性的高质量光束来实现相关的检测.国际上,同步辐射装置已经广泛应用于空间X射线望远镜及相关光学元件的测量和性能表征等领域[9-11]. ...

相对于单层反射膜的测量,多层反射膜尤其是非周期多层膜的膜系结构的表征较为复杂,也更加需要类似同步辐射光束这样的高亮度光束进行大范围的角度或能量扫描,以获得更多的布拉格反射峰,以获得精确的结构参数. ...
Spiegelsysteme streifenden einfalls als abbildende optiken für r?ntgenstrahlen
1
1952
... 空间X射线聚焦光学系统是开展X射线脉冲星科学探测与计时导航的基础元件.最常见的聚焦型X射线光学系统包括Wolter、K-B和龙虾眼等类型的聚焦反射镜.其中,Wolter型聚焦光学系统于1952年被提出[12],由2个同轴共焦的旋转抛物面和双曲面构成,主要包括Wolter-Ⅰ(2次内反射)、Ⅱ(1次内反射和1次外反射)、Ⅲ(2次外反射)3种类型,如图1所示[1].这类结构具有消除色差、减少慧差,并增大数值孔径等优点.其中Wolter-I型望远镜系统因易于工程加工而获得广泛应用.X射线以掠入射角入射到超光滑镜片的内表面,通过2次反射后将X射线聚焦在焦点处.龙虾眼型聚焦反射镜是1979年Angel[13]根据龙虾的眼球方形结构特性提出的一种用于X射线聚焦的光学系统,一般采用微通道板方孔阵列技术研制而成,其特殊的正交几何结构使其在各个方向的聚焦成像能力相同,是一种非常紧凑的光学设计,基本工作原理如图2(a)[14]所示.目前国内外具备研制该类光学系统的单位主要包括英国莱斯特大学、史密森天体物理学天文台、捷克天文学研究所[15]、法国Photonis公司以及中国的北方夜视技术股份有限公司[16]、北京空间机电研究所等.图2(b)为2015年美国首飞的软X射线龙虾眼型望远镜[17]. ...
Lobster eyes as X-ray telescopes
1
1979
... 空间X射线聚焦光学系统是开展X射线脉冲星科学探测与计时导航的基础元件.最常见的聚焦型X射线光学系统包括Wolter、K-B和龙虾眼等类型的聚焦反射镜.其中,Wolter型聚焦光学系统于1952年被提出[12],由2个同轴共焦的旋转抛物面和双曲面构成,主要包括Wolter-Ⅰ(2次内反射)、Ⅱ(1次内反射和1次外反射)、Ⅲ(2次外反射)3种类型,如图1所示[1].这类结构具有消除色差、减少慧差,并增大数值孔径等优点.其中Wolter-I型望远镜系统因易于工程加工而获得广泛应用.X射线以掠入射角入射到超光滑镜片的内表面,通过2次反射后将X射线聚焦在焦点处.龙虾眼型聚焦反射镜是1979年Angel[13]根据龙虾的眼球方形结构特性提出的一种用于X射线聚焦的光学系统,一般采用微通道板方孔阵列技术研制而成,其特殊的正交几何结构使其在各个方向的聚焦成像能力相同,是一种非常紧凑的光学设计,基本工作原理如图2(a)[14]所示.目前国内外具备研制该类光学系统的单位主要包括英国莱斯特大学、史密森天体物理学天文台、捷克天文学研究所[15]、法国Photonis公司以及中国的北方夜视技术股份有限公司[16]、北京空间机电研究所等.图2(b)为2015年美国首飞的软X射线龙虾眼型望远镜[17]. ...
Prototyping iridium coated mirrors for X-ray astronomy
1
10235
... 空间X射线聚焦光学系统是开展X射线脉冲星科学探测与计时导航的基础元件.最常见的聚焦型X射线光学系统包括Wolter、K-B和龙虾眼等类型的聚焦反射镜.其中,Wolter型聚焦光学系统于1952年被提出[12],由2个同轴共焦的旋转抛物面和双曲面构成,主要包括Wolter-Ⅰ(2次内反射)、Ⅱ(1次内反射和1次外反射)、Ⅲ(2次外反射)3种类型,如图1所示[1].这类结构具有消除色差、减少慧差,并增大数值孔径等优点.其中Wolter-I型望远镜系统因易于工程加工而获得广泛应用.X射线以掠入射角入射到超光滑镜片的内表面,通过2次反射后将X射线聚焦在焦点处.龙虾眼型聚焦反射镜是1979年Angel[13]根据龙虾的眼球方形结构特性提出的一种用于X射线聚焦的光学系统,一般采用微通道板方孔阵列技术研制而成,其特殊的正交几何结构使其在各个方向的聚焦成像能力相同,是一种非常紧凑的光学设计,基本工作原理如图2(a)[14]所示.目前国内外具备研制该类光学系统的单位主要包括英国莱斯特大学、史密森天体物理学天文台、捷克天文学研究所[15]、法国Photonis公司以及中国的北方夜视技术股份有限公司[16]、北京空间机电研究所等.图2(b)为2015年美国首飞的软X射线龙虾眼型望远镜[17]. ...
LOBSTER - X-ray astrophysical facility
1
2008
... 空间X射线聚焦光学系统是开展X射线脉冲星科学探测与计时导航的基础元件.最常见的聚焦型X射线光学系统包括Wolter、K-B和龙虾眼等类型的聚焦反射镜.其中,Wolter型聚焦光学系统于1952年被提出[12],由2个同轴共焦的旋转抛物面和双曲面构成,主要包括Wolter-Ⅰ(2次内反射)、Ⅱ(1次内反射和1次外反射)、Ⅲ(2次外反射)3种类型,如图1所示[1].这类结构具有消除色差、减少慧差,并增大数值孔径等优点.其中Wolter-I型望远镜系统因易于工程加工而获得广泛应用.X射线以掠入射角入射到超光滑镜片的内表面,通过2次反射后将X射线聚焦在焦点处.龙虾眼型聚焦反射镜是1979年Angel[13]根据龙虾的眼球方形结构特性提出的一种用于X射线聚焦的光学系统,一般采用微通道板方孔阵列技术研制而成,其特殊的正交几何结构使其在各个方向的聚焦成像能力相同,是一种非常紧凑的光学设计,基本工作原理如图2(a)[14]所示.目前国内外具备研制该类光学系统的单位主要包括英国莱斯特大学、史密森天体物理学天文台、捷克天文学研究所[15]、法国Photonis公司以及中国的北方夜视技术股份有限公司[16]、北京空间机电研究所等.图2(b)为2015年美国首飞的软X射线龙虾眼型望远镜[17]. ...
Angel型龙虾眼X射线光学器件的研制及性能测试
2
2021
... 空间X射线聚焦光学系统是开展X射线脉冲星科学探测与计时导航的基础元件.最常见的聚焦型X射线光学系统包括Wolter、K-B和龙虾眼等类型的聚焦反射镜.其中,Wolter型聚焦光学系统于1952年被提出[12],由2个同轴共焦的旋转抛物面和双曲面构成,主要包括Wolter-Ⅰ(2次内反射)、Ⅱ(1次内反射和1次外反射)、Ⅲ(2次外反射)3种类型,如图1所示[1].这类结构具有消除色差、减少慧差,并增大数值孔径等优点.其中Wolter-I型望远镜系统因易于工程加工而获得广泛应用.X射线以掠入射角入射到超光滑镜片的内表面,通过2次反射后将X射线聚焦在焦点处.龙虾眼型聚焦反射镜是1979年Angel[13]根据龙虾的眼球方形结构特性提出的一种用于X射线聚焦的光学系统,一般采用微通道板方孔阵列技术研制而成,其特殊的正交几何结构使其在各个方向的聚焦成像能力相同,是一种非常紧凑的光学设计,基本工作原理如图2(a)[14]所示.目前国内外具备研制该类光学系统的单位主要包括英国莱斯特大学、史密森天体物理学天文台、捷克天文学研究所[15]、法国Photonis公司以及中国的北方夜视技术股份有限公司[16]、北京空间机电研究所等.图2(b)为2015年美国首飞的软X射线龙虾眼型望远镜[17]. ...

2020年西班牙ALBA同步辐射光源在欧洲航天局的支持下开始建造一条全新的计量光束线MINERVA,用于支持ATHENA高能天体物理学望远镜任务[77].这条光束线提供1 keV的固定能量和好于1″(RMS)残余发散的准直性.该光束线将与BESSY-II的XPBF一样,可以提供细光束测量和系统成像实验. ...
X-ray facility for the characterization of the Athena mirror modules at the ALBA synchrotron
1
2020
... 2020年西班牙ALBA同步辐射光源在欧洲航天局的支持下开始建造一条全新的计量光束线MINERVA,用于支持ATHENA高能天体物理学望远镜任务[77].这条光束线提供1 keV的固定能量和好于1″(RMS)残余发散的准直性.该光束线将与BESSY-II的XPBF一样,可以提供细光束测量和系统成像实验. ...
Wolter-Ⅰ型X射线天文望远镜的光学设计
1
2012
... 空间X射线的有效集光面积为几何集光面积和镜面反射率的乘积.实现反射镜的高反射率是空间X射线望远镜获得大有效集光面积的关键.对于空间X射线观测,镜面表面需镀制金属单层膜[11]、周期多层膜甚至非周期多层膜[78]以获得高的反射率和较宽入射角和能量范围.镀膜材料的选取取决于望远镜工作的X射线能段和功能需求.相比于前几节讨论的反射镜面形误差的表征技术,反射率计量需要考虑反射镜的高频表面粗糙度,这种粗糙度通过Nevot-Croce因子或Debye-Waller因子[79]的形式来减小理论的反射率.对于超光滑表面一般Nevot-Croce因子更为精确.界表面宽度包含粗糙度和界表面扩散2部分,对于反射测试而言无法分辨两者.但是对于单层膜而言,通常直接用表面宽度等效作为表面粗糙度.高频粗糙度除了降低镜向方向的反射光通量,其产生的随机漫散射也会对于望远镜系统的成像质量形成显著的衰减[80].反射率或者散射光计量包括单一反射镜元件测量和整个反射式系统的通量计量. ...
Optical design of Wolter-Ⅰ X-ray astronomical telescope
1
2012
... 空间X射线的有效集光面积为几何集光面积和镜面反射率的乘积.实现反射镜的高反射率是空间X射线望远镜获得大有效集光面积的关键.对于空间X射线观测,镜面表面需镀制金属单层膜[11]、周期多层膜甚至非周期多层膜[78]以获得高的反射率和较宽入射角和能量范围.镀膜材料的选取取决于望远镜工作的X射线能段和功能需求.相比于前几节讨论的反射镜面形误差的表征技术,反射率计量需要考虑反射镜的高频表面粗糙度,这种粗糙度通过Nevot-Croce因子或Debye-Waller因子[79]的形式来减小理论的反射率.对于超光滑表面一般Nevot-Croce因子更为精确.界表面宽度包含粗糙度和界表面扩散2部分,对于反射测试而言无法分辨两者.但是对于单层膜而言,通常直接用表面宽度等效作为表面粗糙度.高频粗糙度除了降低镜向方向的反射光通量,其产生的随机漫散射也会对于望远镜系统的成像质量形成显著的衰减[80].反射率或者散射光计量包括单一反射镜元件测量和整个反射式系统的通量计量. ...
X-ray reflectivity and diffuse scattering
1
2000
... 空间X射线的有效集光面积为几何集光面积和镜面反射率的乘积.实现反射镜的高反射率是空间X射线望远镜获得大有效集光面积的关键.对于空间X射线观测,镜面表面需镀制金属单层膜[11]、周期多层膜甚至非周期多层膜[78]以获得高的反射率和较宽入射角和能量范围.镀膜材料的选取取决于望远镜工作的X射线能段和功能需求.相比于前几节讨论的反射镜面形误差的表征技术,反射率计量需要考虑反射镜的高频表面粗糙度,这种粗糙度通过Nevot-Croce因子或Debye-Waller因子[79]的形式来减小理论的反射率.对于超光滑表面一般Nevot-Croce因子更为精确.界表面宽度包含粗糙度和界表面扩散2部分,对于反射测试而言无法分辨两者.但是对于单层膜而言,通常直接用表面宽度等效作为表面粗糙度.高频粗糙度除了降低镜向方向的反射光通量,其产生的随机漫散射也会对于望远镜系统的成像质量形成显著的衰减[80].反射率或者散射光计量包括单一反射镜元件测量和整个反射式系统的通量计量. ...
Analytical evaluation of the X-ray scattering contribution to imaging degradation in grazing-incidence X-ray telescopes
1
2007
... 空间X射线的有效集光面积为几何集光面积和镜面反射率的乘积.实现反射镜的高反射率是空间X射线望远镜获得大有效集光面积的关键.对于空间X射线观测,镜面表面需镀制金属单层膜[11]、周期多层膜甚至非周期多层膜[78]以获得高的反射率和较宽入射角和能量范围.镀膜材料的选取取决于望远镜工作的X射线能段和功能需求.相比于前几节讨论的反射镜面形误差的表征技术,反射率计量需要考虑反射镜的高频表面粗糙度,这种粗糙度通过Nevot-Croce因子或Debye-Waller因子[79]的形式来减小理论的反射率.对于超光滑表面一般Nevot-Croce因子更为精确.界表面宽度包含粗糙度和界表面扩散2部分,对于反射测试而言无法分辨两者.但是对于单层膜而言,通常直接用表面宽度等效作为表面粗糙度.高频粗糙度除了降低镜向方向的反射光通量,其产生的随机漫散射也会对于望远镜系统的成像质量形成显著的衰减[80].反射率或者散射光计量包括单一反射镜元件测量和整个反射式系统的通量计量. ...
Reflectivity around the gold L-edges of X-ray reflector of the soft X-ray telescope onboard ASTRO-H
1
9905
... 日本SPring-8光源BL01B1线站的科研人员对ASTRO-H软X射线望远镜的金反射膜进行了反射率测试[81],获得11.2~15.4 keV下镀膜精确的原子散射因子.印度的科研人员利用Indus-1光源在155~290 eV范围内对于ASTROSAT望远镜的金反射膜进行了反射率测试[82].北京控制工程研究所利用北京同步辐射4B7B光束线对于脉冲星探测器的核心嵌套掠入射光学系统的每层镀金反射镜进行了反射率测量[11],如图20所示.基于实测反射率得到光学系统有效面积为13.2 cm2@1 keV. ...
X-ray characterization of thin foil gold mirrors of a soft X-ray telescope for ASTROSAT
1
2010
... 日本SPring-8光源BL01B1线站的科研人员对ASTRO-H软X射线望远镜的金反射膜进行了反射率测试[81],获得11.2~15.4 keV下镀膜精确的原子散射因子.印度的科研人员利用Indus-1光源在155~290 eV范围内对于ASTROSAT望远镜的金反射膜进行了反射率测试[82].北京控制工程研究所利用北京同步辐射4B7B光束线对于脉冲星探测器的核心嵌套掠入射光学系统的每层镀金反射镜进行了反射率测量[11],如图20所示.基于实测反射率得到光学系统有效面积为13.2 cm2@1 keV. ...
X-ray mirror development and testing for the ATHENA mission
1
9905
... 德国BESSY-Ⅱ光源的PTB线站被用来测量ATHENA望远镜系统中的微孔硅反射镜上镀制的Ir/B4C多层膜在2~10 keV下的反射率曲线以及研究各种B4C基多层膜的长时老化性能[83].欧洲的HEFT和Con-X HXT硬X射线望远镜的反射膜是深度方向梯度厚度变化的非周期,每组反射镜的周期厚度从约3 nm变化到超过10 nm,这样的反射镜目标实现18~170 keV的宽带高反射率[84].科研人员利用欧洲ESRF光源的BM5和ID15A光束线进行定能量的角度联动扫描实验,并利用拟合得到的膜层结构推演出最终的全能量范围的反射率曲线,如图21所示[84]. ...
Measured reflectance of graded multilayer mirrors designed for astronomical hard X-ray telescopes
4
2000
... 德国BESSY-Ⅱ光源的PTB线站被用来测量ATHENA望远镜系统中的微孔硅反射镜上镀制的Ir/B4C多层膜在2~10 keV下的反射率曲线以及研究各种B4C基多层膜的长时老化性能[83].欧洲的HEFT和Con-X HXT硬X射线望远镜的反射膜是深度方向梯度厚度变化的非周期,每组反射镜的周期厚度从约3 nm变化到超过10 nm,这样的反射镜目标实现18~170 keV的宽带高反射率[84].科研人员利用欧洲ESRF光源的BM5和ID15A光束线进行定能量的角度联动扫描实验,并利用拟合得到的膜层结构推演出最终的全能量范围的反射率曲线,如图21所示[84]. ...

本文的其它图/表