摘要: 本文利用平面波谱概念,经恰当地选取离散抽样点,通过数值算法比较全面地分析了罩对天线方向图的影响,除常规的视轴误差分析之外,着重计算了交叉耦合场和由罩壁反射引起的天线远场方向图中的闪烁瓣,并讨论了这些影响随天线扫描角的变化规律。
刘建芬;万伟. 天线-罩系统的分析[J]. 航空学报, 1987, 8(1): 67-76.
Liu Jianfen and Wan Wei. ANALYSIS OF ANTENNA-RADOWI SYSTEMS[J]. ACTA AERONAUTICAET ASTRONAUTICA SINICA, 1987, 8(1): 67-76.